一 、功能与结构特征概述

基本功能：ST2558B-F02 型箔上涂层电阻率/方阻探头，有圆柱平头形合金探针，配以四探针仪器和测试台，用以测试金属箔上涂层电阻率/方阻。

基本组成：成套探头有探针、探针座、手持式外套、测试台连接单元，仪器连接线缆等部件组成。

配套与兼容：本探头兼容本公司所有四探针仪器和四探针测试台，如下表主要型号，配以本公司测试台，也可兼容其他大部分厂家四探针仪器。

ST2558B-F02 型箔上涂层电阻率/方阻探头适用产品部分型号及名称列表

1 可测片料块料或棒料等。最小样品尺寸4mm×10mm，较大平面尺寸和厚度，由所配测试台决定，手持探头方式不限。

2 .1探  针  间  距：直线二针分布， 间距10.0mm。

2.2探针机械游移率： ±0.5%。

2.3探          针：镀镍合金，Φ4.0mm。

2.4压          力： 0～1000g可调,额定压力约500g。

三、使用方式，探头操作请参照各配套测试台使用方式。仪器操作请参照仪器说明书。

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