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苏州晶格电子有限公司
Suzhou Lattice Electronics Co., Ltd
材料电阻率、方块电阻测量相关国标、行标制定主要参与者
产品中心: 粉末电阻率测试仪 四探针测试仪 石墨碳素电阻率测试仪 电炭制品电阻率测试仪

产品名称:SZT-G型橡塑材料电阻率测试台

咨询热线:400-635-7098
产品详情

、功能与结构特征概述


基本功能: SZT-G型橡塑材料电阻率测试台,配以四探针仪器构成成套测试系统,是运用平行四刀法四端子测量原理的专业测量半导电橡塑材料或薄膜的电阻率/方阻的多用途综合测量装置.(以下简称测试台),符合橡塑行业专用国内标准《GBT 3048.3-94电线电缆电性能试验方法 半导电橡塑材料体积电阻率试验》。
基本组成:测试台由样品盒、测试电极组、升降台、支架、连接线缆等部件组成。
配套与兼容:本测试台兼容本公司所有台式四探针测试仪器。本测试台可兼容国内同行绝大多数四探针电阻率/方阻测试仪器。
优势特征:本测试台电极组升降是快速恒压手动方式,稳定性好、结构紧凑、测量简便等特点。样品盒是用耐高温、耐腐蚀、高绝缘的材料做成的,并且带有联通电极,这样清洁好的标准样品装夹后,便于烘干、时效、测试、移动等,而避免手接触样品带来污染影响测试精度。
仪器适用于半导体薄膜材料厂、橡塑材料厂、金属薄膜材料厂、电容器厂、科研单位、高等院校等对半导体或橡塑材料的方阻、电阻率性能的测试。
二、技术参数(以配ST2258C型多功能数字式四探针测试仪为例)
2.1 测量范围、分辨率(有所配仪器决定)
(1)电阻率测试范围
(厚度d<2.2mm,宽w<50mm)
基本电阻率测量值: 1.0×10-6 ~ 5.00×105 Ω*cm,
分辨率:1.0×10-7 ~ 1.0×103  Ω*cm。
具体截面s与测量范围关系见图2-1A。
(2)方阻测试范围
测量膜宽:1mm≤w≤50mm
基本方阻测量值: 5.0×10-6 ~ 2.000×106 Ω/□,
分辨率:1.0×10-4 ~ 1.0×103  Ω/□。
具体膜宽w与测量范围关系见图2-1B。
2.2 SZT-G50测试刀架:
⑴电压刀片间距:20mm±0.2% ,刀长60mm
⑵电流刀片间距: 70mm,刀长60mm
⑶测试刀架外型尺寸:220×180×200(长×宽×高)
三、详情请登陆苏州晶格电子有限公司官方网站http://www.szjgdz.com.cn 或
阿里巴巴诚信通网址http://dhl7002.cn.alibaba.com
查看《SZT-G型橡塑材料电阻率测试台技术使用说明书》
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