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苏州晶格电子有限公司
Suzhou Lattice Electronics Co., Ltd
材料电阻率、方块电阻测量相关国标、行标制定主要参与者
产品中心: 粉末电阻率测试仪 四探针测试仪 石墨碳素电阻率测试仪 电炭制品电阻率测试仪

产品名称:ST2258H型质量电阻率测试仪

咨询热线:400-635-7098
产品详情

、功能与结构特征概述


基本功能: ST2258H型金属质量电阻率测试仪,是运用平行四刀法(四端子法)原理专业测量金属箔类样品的(质量)电阻率/方阻的多用途综合测量装置。
基本组成:测试仪器由ST2258H质量电阻率测试仪(主机)+SZT-H1测试台(平行四刀电极)+ST2258H质量电阻率测试PC软件等单元组成。
依据标准:《GBT 5230-1995 电解铜箔 附录C 电性能检验方法-质量电阻率测试方法》,参照《GBT 3048.2-94电线电缆电性能试验方法-金属导体材料电阻率试验》
优势特征:本测试系统有配套PC软件,参数设置、数据测试等操作简便明了,数据测试、采集、编辑、保存、打印、历史查询等功能齐全。
本系统既可以联机PC软件操作,也可单独仪器脱机操作,功能简便齐全。
应用范围:本仪器适用于金属箔材、薄膜材料厂、电容器厂、科研单位、高等院校等对金属箔材的质量电阻率/电阻率/方阻性能的测试。同样适用于采用平行四刀法进行薄膜、薄层类导体、半导体材料的电阻率、方阻测试。

二、技术参数
2.1 系统测量范围、分辨率
(1)质量电阻率/电阻率测试范围(以配SZT-H1测试台为例)
(厚度d<2mm,宽w<50mm)
基本电阻率测量值: 1.0×10-6 ~ 1.2×103 Ω*cm,
分辨率:1.0×10-7 ~ 1.0×100  Ω*cm。
(2)方阻测试范围*(以配SZT-H1测试台为例)
测量膜宽:1mm≤B≤50mm
基本方阻测量值: 1.0×10-6 ~ 1.2×103 Ω/□,
分辨率:1.0×10-7 ~ 1.0×100  Ω/□。
2.2 SZT-H1测试台参数:
⑴电压刀片间距:20mm±0.2% ,刀刃长60mm
⑵电流刀片间距: 70mm,刀刃长60mm
⑶测试台架外型尺寸:360×200×240(长×宽×高)
2.3 ST2258H测试仪参数:
⑴电源电压:U=220V/110V±5%可选,f=50/60Hz。
⑵功    率: ≦30W
⑶外型尺寸:220×245×105(长×宽×高)
三、详情请登陆苏州晶格电子官网
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